一、環(huán)境試驗(yàn)機(jī)介紹：
環(huán)境試驗(yàn)箱主要包括低溫試驗(yàn)設(shè)備、高溫試驗(yàn)設(shè)備、溫度變化試驗(yàn)設(shè)備、恒定濕熱試驗(yàn)設(shè)備、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備、鹽霧試驗(yàn)設(shè)備等。本文只淺談關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的溫度校準(zhǔn)，因此只涉及到低溫試驗(yàn)設(shè)備、高溫試驗(yàn)設(shè)備及溫度變化試驗(yàn)設(shè)備。
二、新舊環(huán)境試驗(yàn)箱對(duì)比
2．1測(cè)量依據(jù)
2．1．1 JJFllOl一2003{環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
2．1．2 GB5170{電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》
2．2新增加的內(nèi)容
JJFI101—2003增加了引用文獻(xiàn)、計(jì)量特性，規(guī)范了計(jì)量術(shù)語(yǔ)。
2．3校準(zhǔn)條件對(duì)比
2．3．1環(huán)境條件
JJF1101—2003中濕度：（30～ 85） RH；GB5170中相對(duì)濕度45 一75 。
2．3．2負(fù)載條件
JJF1101—2003規(guī)定一般在空載條件下校準(zhǔn)，根據(jù)用戶要求可以在負(fù)載條件下進(jìn)行校準(zhǔn)，但應(yīng)說(shuō)明負(fù)載的情況。
2．4測(cè)量用標(biāo)準(zhǔn)器
JJF1101—2003規(guī)定溫度測(cè)量由溫度傳感器（通常用四線制鉑熱電阻）和顯示儀表組成，時(shí)間常數(shù)應(yīng)小于15s。在時(shí)間常數(shù)要求上要嚴(yán)于GB517O的不大于20s。
2．5溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目
2．5．1 JJF11Ol一2003中溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目有：溫度偏差；溫度均勻度；溫度波動(dòng)度。
2．5．2 GB5170中關(guān)于溫度校準(zhǔn)項(xiàng)目有：溫度誤差；溫度變化速率（適用于有溫度變化速率要求的試驗(yàn)設(shè)備）。
2．6溫度校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)溫度點(diǎn)的選擇
2．6．1 JJF1101—2003中校準(zhǔn)溫度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的下限、上限及中間點(diǎn)，也可根據(jù)用戶要求選擇實(shí)際常用的溫度點(diǎn)。
2．6．2 GB5170中在設(shè)備溫度可調(diào)范圍內(nèi)，檢定溫度一般選取極限標(biāo)稱溫度和按GB2423．1規(guī)定的具有代表性的標(biāo)稱溫度點(diǎn)．
2．7測(cè)試點(diǎn)的位置
測(cè)試點(diǎn)的位置應(yīng)布放在設(shè)備工作室的三個(gè)校準(zhǔn)面上，簡(jiǎn)稱上、中、下三層，中層為通過(guò)工作室?guī)缀沃行牡钠叫杏诘酌娴男?zhǔn)工作面。
2．7．1 JJF1i01—2003中測(cè)試點(diǎn)與工作室內(nèi)壁的距離不小于各邊長(zhǎng)的1／l0，遇風(fēng)道時(shí)，此距離可加大，但不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車(chē)時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在樣品架或樣品車(chē)上方10ram 處。
2．7．2 GB5I70中設(shè)備容積小于或等于Im3時(shí)，測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室邊長(zhǎng)的1／10。設(shè)備帶有樣品架時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可存放在底層樣品架上10mm處。設(shè)備容積大于lm3小于或等于10m3時(shí)，測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室各邊長(zhǎng)的1／lO（遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離）。設(shè)備帶有樣品或樣品車(chē)時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在底層樣品架或樣品車(chē)上方lOmm處；設(shè)備容積大于10m3時(shí)，測(cè)試點(diǎn)位置與工作室內(nèi)壁的距離為工作室各邊長(zhǎng)的1／lO（遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離），但zui大距離不能大于500mm。設(shè)備帶有樣品或樣品車(chē)時(shí)，下層測(cè)試點(diǎn)可布放在底層樣品架或樣品車(chē)上方10ram處。
