簡(jiǎn)要描述：薄膜表面檢測(cè)儀主要用于檢測(cè)薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機(jī)、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)，及時(shí)準(zhǔn)確的反應(yīng)缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評(píng)級(jí)提供真是準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的同時(shí)，有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
產(chǎn)品型號(hào)：JR-CHY廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-10-09訪 問 量：1574項(xiàng)目背景
薄膜作為包裝材料的主要形式，已經(jīng)成為工業(yè)產(chǎn)品*的原材料。在薄膜的生產(chǎn)過程中，由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產(chǎn)過程中及時(shí)檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產(chǎn)的根源，實(shí)現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，一直是薄膜企業(yè)追求的目標(biāo)。
現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對(duì)薄膜表面的質(zhì)量提出越來越高的要求，傳統(tǒng)的檢測(cè)方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無損只能檢測(cè)的要求，基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比，具有快速、可靠。準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)，目前已被許多薄膜企業(yè)所應(yīng)用。
工作原理
生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時(shí)，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線表面（對(duì)于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測(cè)原理），架設(shè)在生產(chǎn)線上的線陣相機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)同步掃描，同時(shí)系統(tǒng)將相機(jī)采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進(jìn)行瑕疵分割處理。
由于瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異，從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，同時(shí)對(duì)瑕疵進(jìn)行有效的判定、分類。
技術(shù)介紹
【薄膜表面檢測(cè)系統(tǒng)】主要用于檢測(cè)薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機(jī)、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)，及時(shí)準(zhǔn)確的反應(yīng)缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評(píng)級(jí)提供真是準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的同時(shí)，有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
檢測(cè)對(duì)象 | 保護(hù)膜、涂布膜、光學(xué)膜、鋰電隔膜、食品包裝膜 |
檢測(cè)幅寬 | 任意幅寬（根據(jù)生產(chǎn)線寬度進(jìn)行定制） |
檢測(cè)速度 | MAX：600m/min |
檢測(cè)精度 | 0.1mm*0.1mm |
缺陷類型 | 晶點(diǎn)、線條、黑點(diǎn)、蚊蟲、孔洞、劃傷等常見缺陷 |
測(cè)寬精度 | 產(chǎn)線無縱向偏移時(shí)誤差≤3mm |
缺陷標(biāo)識(shí) | 自動(dòng)聲光報(bào)警，同時(shí)在系統(tǒng)界面顯示當(dāng)前缺陷的具體圖像及信息 |
歷史記錄 | 記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù)，分布的位置、大小、面積等信息 |
常見瑕疵圖片
