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產(chǎn)品展示

X射線衍射儀

簡要描述:DX系列X射線衍射儀設(shè)計精密,硬件、軟件功能齊全,能靈活地適用于物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的各種測試、分析和研究。根據(jù)實(shí)際任務(wù)的需要,可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)控制和計算軟件,組成具有特殊功能的衍射儀系統(tǒng)。

  • 產(chǎn)品型號:DX系列
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-10-07
  • 訪  問  量:3540
詳情介紹

DX系列X射線衍射儀設(shè)計精密,硬件、軟件功能齊全,能靈活地適用于物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的各種測試、分析和研究。根據(jù)實(shí)際任務(wù)的需要,可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)控制和計算軟件,組成具有特殊功能的衍射儀系統(tǒng)。
 

  ●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的*結(jié)合,滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要;

  ●高精度的衍射角度測量系統(tǒng),獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果;

  ●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度;

  ●程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,操作簡便、儀器外型更美觀。

 
  技術(shù)參數(shù)    
 
 
  可對單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析,如物相定性和定量分析(RIR定量、內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)法、外部標(biāo)準(zhǔn)法、標(biāo)準(zhǔn)添加法),衍射譜圖指標(biāo)化及點(diǎn)陣參數(shù)測定,晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變測定,衍射圖譜擬合修正晶體結(jié)構(gòu)(WPF),殘余應(yīng)力測定,織構(gòu)分析(ODF表示立體極圖),結(jié)晶度、薄膜測定。
 
  衍射數(shù)據(jù)處理軟件    
  對衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行常規(guī)處理:自動尋峰、手動尋峰、積分強(qiáng)度、Kα1、α2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結(jié)構(gòu),模擬出XRD衍射譜圖等;
 

  擬合、多重峰分離

 
 
 
  通過 Pseudo-Voigt函數(shù)或是利用Pearson-VII函數(shù)對重疊峰擬合分解,確定單一衍射峰的參數(shù),同時計算結(jié)晶度、晶粒尺寸、二類應(yīng)力等。
 
 

  定性、定量分析:

 
 
 
  定性、定量分析確定樣品物相組成后,使用Rietveld方法,計算出各種物相含量的百分比(無標(biāo)標(biāo)定量分析)。
 
 

  Rietveld晶體結(jié)構(gòu)精修(WPF)

 
 
 
  全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質(zhì)、位錯、晶界、點(diǎn)陣畸變等微觀結(jié)構(gòu)。
 
 

  繪圖、打印輸出

 
 
 
  數(shù)據(jù)處理軟件與Windows相連接,對將要輸出的圖譜可以使用標(biāo)注、放大、縮小等功能進(jìn)行版面設(shè)計,也可以使用Windows操作進(jìn)行剪切、粘貼。
 
 
  集成測量附件(選件)    
 
  廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設(shè)計的。但隨著材料研究的深入,越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射分析,集成測量附件就是為了滿足這些需要而設(shè)計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進(jìn)行織構(gòu)、應(yīng)力、薄膜、定量分析等測試,每一種測試功能都有相應(yīng)的計算軟件。
 
 
 

  應(yīng)用領(lǐng)域:

  ●碾軋板(鋁板、鐵板、銅板等)織構(gòu)測量及評價(極圖、反極圖、ODF計算)
  ●
大分子化合物取向測量
  ●
陶瓷樣品取向測量
  ●
薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價
  ●
金屬材料、陶瓷材料的殘余應(yīng)力測量(切削、敲擊等加工產(chǎn)生 的應(yīng)力)
  ●
金屬材料上的氧化膜、氮化膜等殘余應(yīng)力測量,進(jìn)行耐磨性、 切削性評價
  ●
多層膜材料的殘余應(yīng)力測量
  ●
金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析
  ●
金屬、非金屬表面的電鍍材料分析
  ●
有擇優(yōu)取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

  特點(diǎn):

  ●極圖測試裝置(有反射法、透射法、γ擺動)
  ●應(yīng)力測量附件(有側(cè)傾法、并傾法)
  ●薄膜測量、Phi 掃描(樣品表面旋轉(zhuǎn))
  ●zui大可測量樣品尺寸:φ35X8mm
  ●樣品前后自動調(diào)整zui小距為:5μm
  ●附件有定位結(jié)構(gòu)與廣角測角儀安裝、柝卸十分方便
  ●DX系統(tǒng)軟件自動控制各個方向動作,可以更好的進(jìn)行粉末樣品測試

 

  技術(shù)參數(shù):

 
 
 

  α軸轉(zhuǎn)動范圍:-45°~90° zui小轉(zhuǎn)動步距0.001°/步

  β軸轉(zhuǎn)動范圍:360°     zui小轉(zhuǎn)動步距0.005°/步

  γ軸轉(zhuǎn)動范圍:±8mm     水平45°方向擺動

  Z軸轉(zhuǎn)動范圍:10mm      zui小移動步距0.005mm/步

  集成測量附件配置有高分辯率平行光光學(xué)系統(tǒng),克服了聚集光學(xué)系統(tǒng)的缺點(diǎn)。平行光光學(xué)系統(tǒng)可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辯率低等問題。尤其適用于材料殘余應(yīng)力、有機(jī)材料、薄膜、鍍膜等樣品分析。

 
 
 
  織構(gòu)使多晶材料呈現(xiàn)各向異性,利用織構(gòu)改善和提高材料的性能、充分發(fā)揮材料性能潛力是材料科學(xué)研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構(gòu)的方法很多,但是zui廣泛應(yīng)用的還是X射線衍射技術(shù)。

集成測量附件應(yīng)用于退火鋁的織構(gòu)測試。分別測量出111、200、220三張極圖,使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖(ODF圖)
 
 
  集成測量附件應(yīng)用于鋼的殘余應(yīng)力測試,Psi角膜式,-45°~90°范圍內(nèi)取點(diǎn)對稱測量2θ角峰位,計算正向、反向測試應(yīng)力值,取平均值為應(yīng)力測量結(jié)果。

 

 
  纖維樣品測量裝置(選件)    
 
  纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或?qū)⒗w維樣品安裝后拉伸,用透射法或是反射法測試晶體結(jié)構(gòu)或是晶體結(jié)構(gòu)的變化,適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。
 
 
  樣品旋轉(zhuǎn)(薄膜測量)附件(選件)  
 
  使用聚焦光學(xué)系統(tǒng)一般無法測量薄膜樣品,但采用平行光光學(xué)系統(tǒng)和樣品旋轉(zhuǎn)附件、將θ軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內(nèi)旋轉(zhuǎn)的方法,除掉來自基體的強(qiáng)X射線,可以高效率地探測到薄膜衍射線。
 
 
 
  衍射儀通用附件(選件)  
 
 
     
單色器:
提高衍射峰與背景比例及對微相分析能力
  DCX-6換樣器:
編程控制,一次安裝多個樣品,順序進(jìn)行測試,保存測量結(jié)果,提高儀器的運(yùn)行效率。
 
     
陶瓷體X射線管
功率:2kW
焦點(diǎn):1X10mm
標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)、適用國內(nèi)外X射線儀
  制樣器:
用于粉體衍射樣品制作
 
  Dwlc-2循環(huán)水冷卻裝置  
 

  該裝置主要用于顯微鏡、電子探針、能譜儀、衍射儀、熒光光譜儀等實(shí)驗(yàn)室設(shè)備所需要的恒溫水源。它運(yùn)用壓縮機(jī)制冷原理,采用封閉內(nèi)循環(huán)水循環(huán),自動控制制冷系統(tǒng)工作,對儀器需要冷卻部件進(jìn)行熱交換,使儀器在*溫度下穩(wěn)定工作。

技術(shù)參數(shù)

  • 使用蒸餾水,對X射線管或需要冷卻的部件進(jìn)行冷卻;
  • 分體式結(jié)構(gòu)(冷凝器安裝在室外),減少室內(nèi)噪音;
  • 任意設(shè)定循環(huán)水工作溫度(0-50°C);
  • 溫度控制精度:設(shè)定溫度±1°C;
  • 水流量:16L/min、24L/min;
  • 出水口壓力:2.5kg/平方厘米、3.5kg/平方厘米、4.0kg/平方厘米;
  • 儲水量:大于70L或按要求提供;
  • 工作電壓:220V或380V;
  • 工作方式:本機(jī)開、關(guān)或遙控方式選擇;
  • 有水流量檢測、制冷劑壓力檢測及各種保護(hù)。
 
 
 
 

注:

實(shí)驗(yàn)室面積標(biāo)注的尺寸僅供參考

 ● 單相電源220V×30A 2組 

 ● 接地線電阻不得大于4Ω

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